Reliability on ARM Processors Against Soft Errors Through SIHFT Techniques

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Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2016

Volumen: 63

Número: 4

Páginas: 2208-2216

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2016.2525735 GOOGLE SCHOLAR

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