Reliability on ARM Processors Against Soft Errors Through SIHFT Techniques

  1. Chielle, E.
  2. Rosa, F.
  3. Rodrigues, G.S.
  4. Tambara, L.A.
  5. Tonfat, J.
  6. Macchione, E.
  7. Aguirre, F.
  8. Added, N.
  9. Medina, N.
  10. Aguiar, V.
  11. Silveira, M.A.G.
  12. Ost, L.
  13. Reis, R.
  14. Cuenca-Asensi, S.
  15. Kastensmidt, F.L.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Argitalpen urtea: 2016

Alea: 63

Zenbakia: 4

Orrialdeak: 2208-2216

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TNS.2016.2525735 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus