Reliability on ARM Processors Against Soft Errors Through SIHFT Techniques

  1. Chielle, E.
  2. Rosa, F.
  3. Rodrigues, G.S.
  4. Tambara, L.A.
  5. Tonfat, J.
  6. Macchione, E.
  7. Aguirre, F.
  8. Added, N.
  9. Medina, N.
  10. Aguiar, V.
  11. Silveira, M.A.G.
  12. Ost, L.
  13. Reis, R.
  14. Cuenca-Asensi, S.
  15. Kastensmidt, F.L.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Any de publicació: 2016

Volum: 63

Número: 4

Pàgines: 2208-2216

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TNS.2016.2525735 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus