Reliability on ARM Processors Against Soft Errors Through SIHFT Techniques

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 63

Nummer: 4

Seiten: 2208-2216

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TNS.2016.2525735 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

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