Reliability on ARM Processors Against Soft Errors Through SIHFT Techniques

  1. Chielle, E.
  2. Rosa, F.
  3. Rodrigues, G.S.
  4. Tambara, L.A.
  5. Tonfat, J.
  6. Macchione, E.
  7. Aguirre, F.
  8. Added, N.
  9. Medina, N.
  10. Aguiar, V.
  11. Silveira, M.A.G.
  12. Ost, L.
  13. Reis, R.
  14. Cuenca-Asensi, S.
  15. Kastensmidt, F.L.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Ano de publicación: 2016

Volume: 63

Número: 4

Páxinas: 2208-2216

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TNS.2016.2525735 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus