Multiple film plane diagnostic for shocked lattice measurements (invited)

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Revista:
Review of Scientific Instruments

ISSN: 0034-6748

Año de publicación: 2003

Volumen: 74

Número: 3 II

Páginas: 1929-1934

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.1538325 GOOGLE SCHOLAR
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