Multiple film plane diagnostic for shocked lattice measurements (invited)

  1. Kalantar, D.H.
  2. Bringa, E.
  3. Caturla, M.
  4. Colvin, J.
  5. Lorenz, K.T.
  6. Kumar, M.
  7. Stölken, J.
  8. Allen, A.M.
  9. Rosolankova, K.
  10. Wark, J.S.
  11. Meyers, M.A.
  12. Schneider, M.
  13. Boehly, T.R.
Zeitschrift:
Review of Scientific Instruments

ISSN: 0034-6748

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 74

Nummer: 3 II

Seiten: 1929-1934

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/1.1538325 GOOGLE SCHOLAR