Multiple film plane diagnostic for shocked lattice measurements (invited)

  1. Kalantar, D.H.
  2. Bringa, E.
  3. Caturla, M.
  4. Colvin, J.
  5. Lorenz, K.T.
  6. Kumar, M.
  7. Stölken, J.
  8. Allen, A.M.
  9. Rosolankova, K.
  10. Wark, J.S.
  11. Meyers, M.A.
  12. Schneider, M.
  13. Boehly, T.R.
Revista:
Review of Scientific Instruments

ISSN: 0034-6748

Ano de publicación: 2003

Volume: 74

Número: 3 II

Páxinas: 1929-1934

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1063/1.1538325 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus