Multiple film plane diagnostic for shocked lattice measurements (invited)

  1. Kalantar, D.H.
  2. Bringa, E.
  3. Caturla, M.
  4. Colvin, J.
  5. Lorenz, K.T.
  6. Kumar, M.
  7. Stölken, J.
  8. Allen, A.M.
  9. Rosolankova, K.
  10. Wark, J.S.
  11. Meyers, M.A.
  12. Schneider, M.
  13. Boehly, T.R.
Revista:
Review of Scientific Instruments

ISSN: 0034-6748

Any de publicació: 2003

Volum: 74

Número: 3 II

Pàgines: 1929-1934

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1063/1.1538325 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus