Combined master and Fokker-Planck equations for the modeling of the kinetics of extended defects in Si

  1. Lampin, E.
  2. Ortiz, C.J.
  3. Cowern, N.E.B.
  4. Colombeau, B.
  5. Cristiano, F.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 49

Nummer: 7

Seiten: 1168-1171

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.SSE.2005.04.006 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus