Combined master and Fokker-Planck equations for the modeling of the kinetics of extended defects in Si

  1. Lampin, E.
  2. Ortiz, C.J.
  3. Cowern, N.E.B.
  4. Colombeau, B.
  5. Cristiano, F.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Any de publicació: 2005

Volum: 49

Número: 7

Pàgines: 1168-1171

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.SSE.2005.04.006 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus