Recrystallization of a planar amorphous-crystalline interface in silicon by low energy recoils: A molecular dynamics study

  1. Caturla, M.J.
  2. Diaz De La Rubia, T.
  3. Gilmer, G.H.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1995

Volumen: 77

Número: 7

Páginas: 3121-3125

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.358664 GOOGLE SCHOLAR

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