Recrystallization of a planar amorphous-crystalline interface in silicon by low energy recoils: A molecular dynamics study

  1. Caturla, M.J.
  2. Diaz De La Rubia, T.
  3. Gilmer, G.H.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 1995

Ausgabe: 77

Nummer: 7

Seiten: 3121-3125

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.358664 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus