Recrystallization of a planar amorphous-crystalline interface in silicon by low energy recoils: A molecular dynamics study

  1. Caturla, M.J.
  2. Diaz De La Rubia, T.
  3. Gilmer, G.H.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Any de publicació: 1995

Volum: 77

Número: 7

Pàgines: 3121-3125

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.358664 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible