Recrystallization of a planar amorphous-crystalline interface in silicon by low energy recoils: A molecular dynamics study

  1. Caturla, M.J.
  2. Diaz De La Rubia, T.
  3. Gilmer, G.H.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Argitalpen urtea: 1995

Alea: 77

Zenbakia: 7

Orrialdeak: 3121-3125

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.358664 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus