Relative stability of silicon self-interstitial defects

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Revista:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Año de publicación: 2000

Volumen: 610

Páginas: B11.10.1-B11.10.6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1557/PROC-610-B11.10 GOOGLE SCHOLAR
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