Relative stability of silicon self-interstitial defects
- Subramanian, G.
- Jones, K.S.
- Law, M.E.
- Caturla, M.J.
- Theiss, S.
- De La Rubia, T.D.
ISSN: 0272-9172
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 610
Seiten: B11.10.1-B11.10.6
Art: Artikel
ISSN: 0272-9172
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 610
Seiten: B11.10.1-B11.10.6
Art: Artikel