Low-Frequency Noise Behavior of La-Doped HfSiON/Metal Gate nMOSFETs

  1. Choi, Do-Young
  2. Park, Min Sang
  3. Sohn, Chang Woo
  4. Sagong, Hyun Chul
  5. Jung, Eui-Young
  6. Lee, Jeong-Soo
  7. Jeong, Yoon-Ha
  8. Kang, Chang Yong
Llibre:
2011 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS)

ISBN: 978-1-4244-9111-7

Any de publicació: 2011

Congrés: 49th Annual IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS