Dose rate effects during damage accumulation in silicon
- Caturla, M.-J.
- de la Rubia, T.Diaz
ISSN: 0272-9172
Année de publication: 1996
Volumen: 438
Pages: 89-93
Type: Communication dans un congrès
ISSN: 0272-9172
Année de publication: 1996
Volumen: 438
Pages: 89-93
Type: Communication dans un congrès