Dose rate effects during damage accumulation in silicon
- Caturla, M.-J.
- de la Rubia, T.Diaz
ISSN: 0272-9172
Año de publicación: 1996
Volumen: 438
Páginas: 89-93
Tipo: Aportación congreso
ISSN: 0272-9172
Año de publicación: 1996
Volumen: 438
Páginas: 89-93
Tipo: Aportación congreso