Dose rate effects during damage accumulation in silicon
- Caturla, M.-J.
- de la Rubia, T.Diaz
ISSN: 0272-9172
Datum der Publikation: 1996
Ausgabe: 438
Seiten: 89-93
Art: Konferenz-Beitrag
Konferenzberichte:
Materials Research Society Symposium - Proceedings