Effect of the silicon chemical form on the emission intensity in inductively coupled plasma atomic emission spectrometry for xylene matrices
- Sánchez, R.
- Todolí, J.-L.
- Lienemann, C.-P.
- Mermet, J.-M.
ISSN: 0267-9477, 1364-5544
Datum der Publikation: 2009
Ausgabe: 24
Nummer: 4
Seiten: 391-401
Art: Artikel