Minimization of the effect of silicon chemical form in xylene matrices on ICP-AES performance

  1. Sánchez, R.
  2. Todolí, J.L.
  3. Lienemann, C.-P.
  4. Mermet, J.-M.
Revista:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477,  1364-5544

Año de publicación: 2009

Volumen: 24

Número: 10

Páginas: 1382-1388

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/B906568G GOOGLE SCHOLAR
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