Minimization of the effect of silicon chemical form in xylene matrices on ICP-AES performance

  1. Sánchez, R.
  2. Todolí, J.L.
  3. Lienemann, C.-P.
  4. Mermet, J.-M.
Zeitschrift:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry

ISSN: 0267-9477 1364-5544

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 24

Nummer: 10

Seiten: 1382-1388

Art: Artikel

DOI: 10.1039/B906568G GOOGLE SCHOLAR