Face Recognition Bias Assessment through Quality Estimation Models
- Lopez Paya, L.
- Cordoba, P.
- Sanchez Perez, A.
- Barrachina, J.
- Benavent-Lledo, M.
- Mulero-Pérez, D.
- Garcia-Rodriguez, J.
Zeitschrift:
Electronics (Switzerland)
ISSN: 2079-9292
Datum der Publikation: 2023
Ausgabe: 12
Nummer: 22
Art: Artikel
