Dependability Evaluation of COTS Microprocessors via On-Chip debugging facilities

  1. Isaza-Gonzalez, Jose
  2. Serrano-Cases, Alejandro
  3. Restrepo-Calle, Felipe
  4. Cuenca-Asensi, Sergio
  5. Martinez-Alvarez, Antonio
Libro:
2016 17TH IEEE LATIN-AMERICAN TEST SYMPOSIUM (LATS)

ISBN: 978-1-5090-1331-9

Año de publicación: 2016

Páginas: 27-32

Congreso: 17th IEEE Latin-American Test Symposium (LATS)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS