Current saturation through image surface states in scanning tunneling microscopy

  1. Louis, E.
  2. Flores, F.
  3. Echenique, P.M.
Revista:
Solid State Communications

ISSN: 0038-1098

Ano de publicación: 1986

Volume: 59

Número: 7

Páxinas: 453-455

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/0038-1098(86)90686-1 GOOGLE SCHOLAR