Depth profiling of isotopic markers

  1. Caturla, M.
  2. Abril, I.
  3. Jiménez-Rodríguez, J.
Revista:
Vacuum

ISSN: 0042-207X

Año de publicación: 1994

Volumen: 45

Número: 10-11

Páginas: 1123-1124

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0042-207X(94)90042-6 GOOGLE SCHOLAR

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