Depth profiling of isotopic markers

  1. Caturla, M.
  2. Abril, I.
  3. Jiménez-Rodríguez, J.
Zeitschrift:
Vacuum

ISSN: 0042-207X

Datum der Publikation: 1994

Ausgabe: 45

Nummer: 10-11

Seiten: 1123-1124

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0042-207X(94)90042-6 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus