Dose rate effects during damage accumulation in silicon
- Caturla, M.-J.
- Diaz de la Rubia, T.
ISSN: 0272-9172
Année de publication: 1997
Volumen: 439
Pages: 125-129
Type: Communication dans un congrès
ISSN: 0272-9172
Année de publication: 1997
Volumen: 439
Pages: 125-129
Type: Communication dans un congrès