Dose rate effects during damage accumulation in silicon
- Caturla, M.-J.
- Diaz de la Rubia, T.
ISSN: 0272-9172
Datum der Publikation: 1997
Ausgabe: 439
Seiten: 125-129
Art: Konferenz-Beitrag
Konferenzberichte:
Materials Research Society Symposium - Proceedings