Patents, R&D and lag effects: Evidence from flexible methods for count panel data on manufacturing firms
- Gurmu, S.
- Pérez-Sebastián, F.
ISSN: 0377-7332
Argitalpen urtea: 2008
Alea: 35
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 507-526
Mota: Artikulua
ISSN: 0377-7332
Argitalpen urtea: 2008
Alea: 35
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 507-526
Mota: Artikulua