Patents, R&D and lag effects: Evidence from flexible methods for count panel data on manufacturing firms
- Gurmu, S.
- Pérez-Sebastián, F.
ISSN: 0377-7332
Any de publicació: 2008
Volum: 35
Número: 3
Pàgines: 507-526
Tipus: Article
ISSN: 0377-7332
Any de publicació: 2008
Volum: 35
Número: 3
Pàgines: 507-526
Tipus: Article