Determination of the refractive index and thickness of holographic silver halide materials by use of polarized reflectances

  1. Beléndez, A.
  2. Beléndez, T.
  3. Neipp, C.
  4. Pascual, I.
Revista:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Año de publicación: 2002

Volumen: 41

Número: 32

Páginas: 6802-6808

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/AO.41.006802 GOOGLE SCHOLAR
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