Contrast of a HDL model and COTS version of a microprocessor for soft-error testing

  1. Isaza-González, J.
  2. Serrano-Cases, A.
  3. Martinez-Álvarez, A.
  4. Cuenca-Asensi, S.
  5. Guzmán-Miranda, H.
  6. Aguirre, M.A.
Actas:
LATS 2017 - 18th IEEE Latin-American Test Symposium

ISBN: 9781538604151

Año de publicación: 2017

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/LATW.2017.7906771 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus