Multi-Threaded Mitigation of Radiation-Induced Soft Errors in Bare-Metal Embedded Systems

  1. Serrano-Cases, A.
  2. Restrepo-Calle, F.
  3. Cuenca-Asensi, S.
  4. Martínez-Álvarez, A.
Revista:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)

ISSN: 1573-0727,  0923-8174

Año de publicación: 2020

Volumen: 36

Número: 1

Páginas: 47-57

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10836-019-05846-4 GOOGLE SCHOLAR
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