OPA entra en las bases de datos INSPEC y DOAJ

  1. Moreno, Ignacio
  2. Mas, David
Aldizkaria:
Óptica pura y aplicada

ISSN: 2171-8814

Argitalpen urtea: 2009

Alea: 42

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 1001-1003

Mota: Artikulua

DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor

Beste argitalpen batzuk: Óptica pura y aplicada

Datuen iturria: Dialnet