OPA entra en las bases de datos INSPEC y DOAJ

  1. Moreno, Ignacio
  2. Mas, David
Revista:
Óptica pura y aplicada

ISSN: 2171-8814

Any de publicació: 2009

Volum: 42

Número: 2

Pàgines: 1001-1003

Tipus: Article

DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor

Altres publicacions en: Óptica pura y aplicada

Fuente de los datos: Dialnet