Assessment of Radiation-Induced Soft Errors on Lightweight Cryptography Algorithms Running on a Resource-Constrained Device

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Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 1558-1578,  0018-9499

Año de publicación: 2023

Volumen: 70

Número: 8

Páginas: 1805-1813

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2023.3253684 GOOGLE SCHOLAR

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