Femtosecond-resolved ablation dynamics of Si in the near field of a small dielectric particle

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Revista:
Beilstein Journal of Nanotechnology

ISSN: 2190-4286

Año de publicación: 2013

Volumen: 4

Número: 1

Páginas: 501-509

Tipo: Artículo

DOI: 10.3762/BJNANO.4.59 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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