Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

  1. Delgado-Jiménez, Lilliana 1
  2. Chacón-Vargas, Sofía 1
  3. Sabater-Piqueres, Carlos 2
  4. Sáenz-Arce, Giovanni 1
  1. 1 Universidad Nacional
  2. 2 Leiden University
    info

    Leiden University

    Leiden, Holanda

    ROR https://ror.org/027bh9e22

Revista:
Uniciencia

ISSN: 2215-3470

Año de publicación: 2019

Volumen: 33

Número: 1

Páginas: 30-42

Tipo: Artículo

DOI: 10.15359/RU.33-1.3 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openDialnet editor

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Resumen

Uno de los grandes avances en la nanotecnología fue el desarrollo del microscopio de efecto túnel, herramienta que ha permitido poder manipular átomos, moléculas, estudiar el transporte electrónico en un solo átomo e incluso la obtención de imágenes con precisión atómica en superficies eléctricamente conductoras. En este artículo describimos el microscopio de efecto túnel, su funcionamiento, una metodología de calibración y cómo medir topografía de superficies planas con una resolución atómica en condiciones ambiente. Todo ello desde un punto de vista didáctico para los nuevos usuarios o investigadores no familiarizados con la técnica. Dependiendo del tipo de medida y calibración, se usaron dos tipos de muestras conductoras, el oro orientado en la dirección cristalográfica (111) y el grafito pirolítico altamente orientado (HOPG).

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Fuente de los datos: Dialnet