Raman signal reveals the rhombohedral crystallographic structure in ultra-thin layers of bismuth thermally evaporated on amorphous substrate
- Rodríguez-Fernández, C.
- Akius, K.
- Morais de Lima, M.
- Cantarero, A.
- van Ruitenbeek, J.M.
- Sabater, C.
Revista:
Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology
ISSN: 0921-5107
Año de publicación: 2021
Volumen: 270
Tipo: Artículo