The ATHENA X-ray Integral Field Unit (X-IFU)

  1. Barret, D.
  2. Lam Trong, T.
  3. Den Herder, J.-W.
  4. Piro, L.
  5. Cappi, M.
  6. Houvelin, J.
  7. Kelley, R.
  8. Mas-Hesse, J.M.
  9. Mitsuda, K.
  10. Paltani, S.
  11. Rauw, G.
  12. Rozanska, A.
  13. Wilms, J.
  14. Bandler, S.
  15. Barbera, M.
  16. Barcons, X.
  17. Bozzo, E.
  18. Ceballos, M.T.
  19. Charles, I.
  20. Costantini, E.
  21. Decourchelle, A.
  22. Den Hartog, R.
  23. Duband, L.
  24. Duval, J.-M.
  25. Fiore, F.
  26. Gatti, F.
  27. Goldwurm, A.
  28. Jackson, B.
  29. Jonker, P.
  30. Kilbourne, C.
  31. MacCuli, C.
  32. Mendez, M.
  33. Molendi, S.
  34. Orleanski, P.
  35. Pajot, F.
  36. Pointecouteau, E.
  37. Porter, F.
  38. Pratt, G.W.
  39. Prêle, D.
  40. Ravera, L.
  41. Sato, K.
  42. Schaye, J.
  43. Shinozaki, K.
  44. Thibert, T.
  45. Valenziano, L.
  46. Valette, V.
  47. Vink, J.
  48. Webb, N.
  49. Wise, M.
  50. Yamasaki, N.
  51. Douchin, F.
  52. Mesnager, J.-M.
  53. Pontet, B.
  54. Pradines, A.
  55. Branduardi-Raymont, G.
  56. Bulbul, E.
  57. Dadina, M.
  58. Ettori, S.
  59. Finoguenov, A.
  60. Fukazawa, Y.
  61. Janiuk, A.
  62. Kaastra, J.
  63. Mazzotta, P.
  64. Miller, J.
  65. Miniutti, G.
  66. Naze, Y.
  67. Nicastro, F.
  68. Scioritino, S.
  69. Simonescu, A.
  70. Torrejon, J.M.
  71. Frezouls, B.
  72. Geoffray, H.
  73. Peille, P.
  74. Aicardi, C.
  75. André, J.
  76. Daniel, C.
  77. Clénet, A.
  78. Etcheverry, C.
  79. Gloaguen, E.
  80. Hervet, G.
  81. Jolly, A.
  82. Ledot, A.
  83. Maussang, I.
  84. Paillet, A.
  85. Schmisser, R.
  86. Travert, J.-M.
  87. Vella, B.
  88. Damery, J.-C.
  89. Boyce, K.
  90. DIpirro, M.
  91. Lotti, S.
  92. Schwander, D.
  93. Smith, S.
  94. Van Leeuwen, B.-J.
  95. Van Weers, H.
  96. Clerc, N.
  97. Cobo, B.
  98. Dauser, T.
  99. De Plaa, J.
  100. Kirsch, C.
  101. Cucchetti, E.
  102. Eckart, M.
  103. Ferrando, P.
  104. Natalucci, L.
  105. Mostrar todos los/as autores/as +
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510619517

Año de publicación: 2018

Volumen: 10699

Tipo: Artículo

DOI: 10.1117/12.2312409 GOOGLE SCHOLAR