Influence of gate geometry in integrated MOS varactors on accumulation mode for RF
- Amselem, E.
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- Khemchandani, S.L.
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Actas:
2007 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9781424408689
Año de publicación: 2007
Páginas: 68-71
Tipo: Aportación congreso