Electron lifetime in quantum-dot-sensitized photoanodes by open-circuit-potential measurements
ISSN: 1439-4235, 1439-7641
Ano de publicación: 2012
Volume: 13
Número: 16
Páxinas: 3589-3594
Tipo: Artigo
ISSN: 1439-4235, 1439-7641
Ano de publicación: 2012
Volume: 13
Número: 16
Páxinas: 3589-3594
Tipo: Artigo