Averaged Stokes polarimetry applied to characterize parallel-aligned liquid crystal on silicon displays

  1. Márquez, A.
  2. Martínez, F.J.
  3. Gallego, S.
  4. Ortuño, M.
  5. Francés, J.
  6. Beléndez, A.
  7. Pascual, I.
Actes de conférence:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9781628412437

Année de publication: 2014

Volumen: 9216

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1117/12.2061581 GOOGLE SCHOLAR

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