Extended linear polarimeter to measure retardance and flicker: Application to liquid crystal on silicon devices in two working geometries

  1. Martínez, F.J.
  2. Márquez, A.
  3. Gallego, S.
  4. Francés, J.
  5. Pascual, I.
Revista:
Optical Engineering

ISSN: 0091-3286,  1560-2303

Año de publicación: 2014

Volumen: 53

Número: 1

Tipo: Artículo

DOI: 10.1117/1.OE.53.1.014105 GOOGLE SCHOLAR
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