Simulación del tránsito de iones Hn+ a través de láminas delgadas

Resumen

Esta tesis se basa en la creación de un programa de simulación que permite analizar con gran detalle experimentos de interacción del proyectiles moleculares con láminas delgadas. A partir del formalismo dieléctrico y de una función de pérdida energética que describe adecuadamente el poder de frenado del medio electrónico del material, se estudia el frenado electrónico de los diferentes iones de hidrógeno, diferenciado entre el frenado de estos iones no disociados del frenado de estos iones disociados. Además, se hallan los efectos de vecindad electrónicos en el sistema H2+ -H+, los cuales son parecidos a los del H+ -H+. Los efectos de vecindad tienden a alinear en la dirección del haz los fragmentos disociados de los iones moleculares. Estos efectos se ponen de manifiesto en la asimetría de altura de los picos coulombianos de los espectros de energía de los iones disociados de las diferentes moléculas de hidrógeno. También se ven estos efectos en las distribuciones de distancias relativas entre los iones procedentes de las diferentes disociaciones, ya que el valor medio de la distribución de la distancia relativa entre los iones más retrasados es menor que el valor medio de las respectivas distribuciones de los iones más adelantados. La tesis incorpora un modelo para los procesos de pérdidas y captura electrónica de los fragmentos atómicos procedentes de agregados de hidrógeno. Los procesos de pérdida y captura electrónica de un proyectil atómico están influenciados por la presencia de fragmentos vecinos procedentes de una misma disociación y que dependen de la distancia Rij entre ellos y de la velocidad de haz. Se simula el tránsito de iones moleculares H2+, sin disociar y disociados, a través de láminas delgadas. Al implementar en el programa de simulación el proceso de recombinación del ion H2+ se comprueba que depende del hecho de que dos protones capturen un electrón en la superficie de sa